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研究与开发
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| 垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管电学法热阻测试中测试电流的研究 |
| 吕贤亮, 黄东巍, 周钦沅, 李旭 |
| 中国电子技术标准化研究院基础产品研究中心,北京 100176 |
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| Study of measuring current for vertical double-diffused metal oxide semiconductor electrical thermal resistance measurement |
| Lyu Xianliang, Huang Dongwei, Zhou Qinyuan, Li Xu |
| Research Center of Foundational Product, China Electronics Standardization Institute, Beijing 100176 |
| 引用本文: |
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吕贤亮, 黄东巍, 周钦沅, 李旭. 垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管电学法热阻测试中测试电流的研究[J]. 电气技术, 2020, 21(8): 28-32.
Lyu Xianliang, Huang Dongwei, Zhou Qinyuan, Li Xu. Study of measuring current for vertical double-diffused metal oxide semiconductor electrical thermal resistance measurement. Electrical Engineering, 2020, 21(8): 28-32.
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| 链接本文: |
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http://dqjs.cesmedia.cn/CN/Y2020/V21/I8/28
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2020, Vol. 21 