技术与运用
基于大规模可编程逻辑门阵列的网采交换机驻留时间测试技术研究与装置研制
刘海涛1 , 牛健1 , 罗建平2 , 周坤2 , 朱贤宝2
1.国网宁夏电力有限公司电力科学研究院,银川 750001;
Analysis of atypical malfunction tripping of rectifier unit and discussion on technical reform
Liu Haitao1 , Niu Jian1 , Luo Jianping2 , Zhou Kun2 , Zhu Xianbao2
1.State Grid Ningxia Electric Power Co., Ltd, Electric Power Research Institute, Yinchuan 750001;
摘要 随着智能变电站技术的发展,利用电力专用交换机组网传输SV采样值的优势得到了普遍认可。为了能够准确、方便的测试智能变电站专用交换机驻留时间标定性能,本文提出基于大规模FPGA技术的驻留时间测试方法。依据IEC 61850通信模型及电力专用交换机技术规范,将大规模FPGA技术应用于智能变电站网络测试仪的研制,实现对电力专用交换机驻留时间标定性能的长期在线监测。工程实际测试结果表明,依托该技术研制的测试装置具有较好的可靠性和实用性。
关键词 ：
智能变电站 ,
电力专用交换机 ,
驻留时间 ,
FPGA
Abstract ：With the development of smart substation technology, the advantages of intelligent switch networking to transfer SV sample values have been widely recognized. A residence time test technology based on large-scale FPGA is proposed in order to accurately and conveniently test the residence time calibration performance of the smart substation dedicated switch. The large-scale FPGA technology is applied to the development of the smart substation network tester according to the IEC 61850 communication model and the technical specification of the power dedicated switch. The device enables long-term online monitoring of the performance of the power switch's residence time calibration. The actual test results of the project show that the test device has high reliability and practicability.
Key words ：
factory test
GIS
database
收稿日期: 2018-08-30
出版日期: 2019-05-21
作者简介 : 刘海涛（1987-）,男,本科,高级工程师,研究方向为智能变电站二次设备测试与评价。
引用本文:
刘海涛, 牛健, 罗建平, 周坤, 朱贤宝. 基于大规模可编程逻辑门阵列的网采交换机驻留时间测试技术研究与装置研制[J]. 电气技术, 2019, 20(5): 69-73.
Liu Haitao, Niu Jian, Luo Jianping, Zhou Kun, Zhu Xianbao. Analysis of atypical malfunction tripping of rectifier unit and discussion on technical reform. Electrical Engineering, 2019, 20(5): 69-73.
链接本文:
http://dqjs.cesmedia.cn/CN/Y2019/V20/I5/69
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